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Rasterelektron enmikroskop Optik und Spektrometer Anjam Khursheed Top!
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN
- 9789812836670
- Publication Year
- 2010
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Subject Area
- Nanotechnology
- Language
- English
- Publication Name
- Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
- Publisher
- World Industries Scientific Publishing Co Pte LTD
- Number of Pages
- 416 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
This book contains proposals to redesign the scanning electron microscope, so that it is more compatible with other charged particle beam instrumentation and analytical techniques commonly used in surface science research. It emphasizes the concepts underlying spectrometer designs in the scanning electron microscope, and spectrometers are discussed under one common framework so that their relative strengths and weaknesses can be more readily appreciated. This is done, for the most part, through simulations and derivations carried out by the author himself.The book is aimed at scientists, engineers and graduate students whose research area or study in some way involves the scanning electron microscope and/or charged particle spectrometers. It can be used both as an introduction to these subjects and as a guide to more advanced topics about scanning electron microscope redesign.
Product Identifiers
Publisher
World Industries Scientific Publishing Co Pte LTD
ISBN-13
9789812836670
eBay Product ID (ePID)
13046606900
Product Key Features
Subject Area
Nanotechnology
Publication Name
Scanning Electron Microscope Optics and Spectrometers
Format
Hardcover
Language
English
Publication Year
2010
Type
Textbook
Number of Pages
416 Pages
Additional Product Features
Country/Region of Manufacture
Singapore
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