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Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics T. Mit… 9781107120686

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eBay-Artikelnr.:142716504822
Zuletzt aktualisiert am 20. Aug. 2025 10:51:56 MESZAlle Änderungen ansehenAlle Änderungen ansehen

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Neuwertig
Buch, das wie neu aussieht, aber bereits gelesen wurde. Der Einband weist keine sichtbaren Gebrauchsspuren auf. Bei gebundenen Büchern ist der Schutzumschlag vorhanden (sofern zutreffend). Alle Seiten sind vollständig vorhanden, es gibt keine zerknitterten oder eingerissenen Seiten und im Text oder im Randbereich wurden keine Unterstreichungen, Markierungen oder Notizen vorgenommen. Der Inneneinband kann minimale Gebrauchsspuren aufweisen. Minimale Gebrauchsspuren. Genauere Einzelheiten sowie eine Beschreibung eventueller Mängel entnehmen Sie bitte dem Angebot des Verkäufers. Alle Zustandsdefinitionen ansehenwird in neuem Fenster oder Tab geöffnet
Hinweise des Verkäufers
“Unused and unread, minor cosmetic imperfections such as scuffing or minor creasing. Stamped ...
Title
Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics (The C
ISBN
1107120683
Pages
328

Über dieses Produkt

Product Identifiers

Publisher
Cambridge University Press
ISBN-10
1107120683
ISBN-13
9781107120686
eBay Product ID (ePID)
238562157

Product Key Features

Number of Pages
328 Pages
Publication Name
Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
Language
English
Publication Year
2017
Subject
Nanotechnology & Mems, Radio, Electronics / General, Microwaves
Type
Textbook
Author
Pavel Kabos, T. Mitch Wallis
Subject Area
Technology & Engineering
Series
The Cambridge Rf and Microwave Engineering Ser.
Format
Hardcover

Dimensions

Item Height
0.7 in
Item Weight
27.9 oz.
Item Length
10 in
Item Width
7 in

Additional Product Features

Intended Audience
Scholarly & Professional

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