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Jeep JSM-6300F SEM Rasterelektronenmikroskop Säulenbaugruppe funktionstüchtig Überschuss

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“Removed from a JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System. The unit has some scuffs to ...
Brand
JEOL
Category
Lasers Photonics and Optics
SYSTEM/TOOL
JEOL JSM-6300F SEM Scanning Electron Microscope System
MPN
JSM-6300F Column
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