RASTERMIKROSKOPIE FÜR NANOTECHNOLOGIE: TECHNIKEN UND von Weilie Zhou & Zhong

~ Quick Free Delivery in 2-14 days. 100% Satisfaction ~
ZUBER
(278182)
Angemeldet als gewerblicher Verkäufer
Mehr Artikel des Verkäufers
Verkäufer kontaktieren
US $74,75
Ca.CHF 59,67
Artikelzustand:
Gut
“Book is in typical used-Good Condition.  Will show signs of wear to cover and/or pages. There may be ”... Mehr erfahrenÜber den Artikelzustand
Ganz entspannt. Kostenloser Versand & Rückversand.
Versand:
Kostenlos USPS Media MailTM.
Standort: US, USA
Lieferung:
Lieferung zwischen Fr, 10. Okt und Mi, 15. Okt nach 94104 bei heutigem Zahlungseingang
Liefertermine - wird in neuem Fenster oder Tab geöffnet berücksichtigen die Bearbeitungszeit des Verkäufers, die PLZ des Artikelstandorts und des Zielorts sowie den Annahmezeitpunkt und sind abhängig vom gewählten Versandservice und dem ZahlungseingangZahlungseingang - wird ein neuem Fenster oder Tab geöffnet. Insbesondere während saisonaler Spitzenzeiten können die Lieferzeiten abweichen.
Rücknahme:
30 Tage Rückgabe. Verkäufer zahlt Rückversand.
Zahlungen:
     Diners Club

Sicher einkaufen

eBay-Käuferschutz
Geld zurück, wenn etwas mit diesem Artikel nicht stimmt. Mehr erfahreneBay-Käuferschutz - wird in neuem Fenster oder Tab geöffnet
Der Verkäufer ist für dieses Angebot verantwortlich.
eBay-Artikelnr.:187334485517

Artikelmerkmale

Artikelzustand
Gut
Buch, das gelesen wurde, sich aber in einem guten Zustand befindet. Der Einband weist nur sehr geringfügige Beschädigungen auf, wie z.B. kleinere Schrammen, er hat aber weder Löcher, noch ist er eingerissen. Bei gebundenen Büchern ist der Schutzumschlag möglicherweise nicht mehr vorhanden. Die Bindung weist geringfügige Gebrauchsspuren auf. Die Mehrzahl der Seiten ist unbeschädigt, das heißt, es gibt kaum Knitter oder Einrisse, es wurden nur in geringem Maße Bleistiftunterstreichungen im Text vorgenommen, es gibt keine Textmarkierungen und die Randbereiche sind nicht beschrieben. Alle Seiten sind vollständig vorhanden. Genauere Einzelheiten sowie eine Beschreibung eventueller Mängel entnehmen Sie bitte dem Angebot des Verkäufers. Alle Zustandsdefinitionen ansehenwird in neuem Fenster oder Tab geöffnet
Hinweise des Verkäufers
“Book is in typical used-Good Condition.  Will show signs of wear to cover and/or pages. There may ...
ISBN-10
0387333258
Book Title
Scanning Microscopy for Nanotechnology: Techniques and
Genre
Nanotechnology
ISBN
9780387333250
Kategorie

Über dieses Produkt

Product Identifiers

Publisher
Springer New York
ISBN-10
0387333258
ISBN-13
9780387333250
eBay Product ID (ePID)
52760327

Product Key Features

Number of Pages
Xiv, 522 Pages
Language
English
Publication Name
Scanning Microscopy for Nanotechnology : Techniques and Applications
Publication Year
2006
Subject
Materials Science / General, Nanoscience, Electron Microscopes & Microscopy, Nanotechnology & Mems
Type
Textbook
Subject Area
Technology & Engineering, Science
Author
Zhong Lin Wang
Format
Hardcover

Dimensions

Item Height
0.4 in
Item Weight
38.3 Oz
Item Length
9.3 in
Item Width
6.1 in

Additional Product Features

Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
22
Number of Volumes
1 vol.
Illustrated
Yes
Dewey Decimal
502.825
Table Of Content
Fundamentals of Scanning Electron Microscopy (SEM).- Backscattering Detector and EBSD in Nanomaterials Characterization.- X-ray Microanalysis in Nanomaterials.- Low kV Scanning Electron Microscopy.- E-beam Nanolithography Integrated with Scanning Electron Microscope.- Scanning Transmission Electron Microscopy for Nanostructure Characterization.- to In-Situ Nanomanipulation for Nanomaterials Engineering.- Applications of FIB and DualBeam for Nanofabrication.- Nanowires and Carbon Nanotubes.- Photonic Crystals and Devices.- Nanoparticles and Colloidal Self-assembly.- Nano-building Blocks Fabricated through Templates.- One-dimensional Wurtzite Semiconducting Nanostructures.- Bio-inspired Nanomaterials.- Cryo-Temperature Stages in Nanostructural Research.
Synopsis
This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists., Scanning electron microscopy (SEM) can be exploited not only for nanomaterials characterization but also integrated with new technologies for in-situ nanomaterials engineering and manipulation. Scanning Microscopy for Nanotechnology addresses the rapid development of these techniques for nanotechnology, in both technique and application chapters by leading practitioners. The book covers topics including nanomaterials imaging, X-ray microanalysis, high-resolution SEM, low kV SEM, cryo-SEM, as well as new techniques such as electron back scatter diffraction (EBSD) and scanning transmission electron microscopy (STEM). Fabrication techniques integrated with SEM, such as e-beam nanolithography, nanomanipulation, and focused ion beam nanofabrication, are major new dimensions for SEM application. Application areas include the study of nanoparticles, nanowires and nanotubes, three-dimensional nanostructures, quantum dots, magnetic nanomaterials, photonic structures, and bio-inspired nanomaterials. This book will appeal not only to a broad spectrum of nanomaterials researchers, but also to SEM development specialists.
LC Classification Number
T174.7

Artikelbeschreibung des Verkäufers

Info zu diesem Verkäufer

ZUBER

98,2% positive Bewertungen•982 Tsd. Artikel verkauft

Mitglied seit Okt 1998
Angemeldet als gewerblicher Verkäufer
Shop besuchenKontakt

Detaillierte Verkäuferbewertungen

Durchschnitt in den letzten 12 Monaten
Genaue Beschreibung
4.8
Angemessene Versandkosten
5.0
Lieferzeit
5.0
Kommunikation
4.9

Beliebte Kategorien in diesem Shop

Alle ansehenKategorien
BooksCDDVD

Verkäuferbewertungen (306'859)

Alle Bewertungen
Positiv
Neutral
Negativ
Alle Bewertungen ansehen

Noch mehr entdecken: