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PRAKTISCHE SCANNELEKTRONENMIKROSKOPIE: ELEKTRON UND ION Joseph Goldstein TB12

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Artikelmerkmale

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Type
Hardcover
Publication Name
Springer
Item Height
9 inches
ISBN-10
0306308207
Item Length
6.5 inches
Item Width
1.25 inches
ISBN
9780306308208
Publication Year
1975
Format
Hardcover
Language
English
Book Title
Practical Scanning Electron Microscopy : Electron and Ion Microprobe Analysis
Illustrator
Yes
Author
Harvey Yakowitz
Publisher
Springer
Genre
Technology & Engineering, Science
Topic
Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Analytic
Item Weight
34.6 Oz
Number of Pages
Xviii, 582 Pages

Über dieses Produkt

Product Information

In the spring of 1963, a well-known research institute made a market survey to assess how many scanning electron microscopes might be sold in the United States. They predicted that three to five might be sold in the first year a commercial SEM was available, and that ten instruments would saturate the marketplace. In 1964, the Cambridge Instruments Stereoscan was introduced into the United States and, in the following decade, over 1200 scanning electron microscopes were sold in the U. S. alone, representing an investment conservatively estimated at $50,000- $100,000 each. Why were the market surveyers wrongil Perhaps because they asked the wrong persons, such as electron microscopists who were using the highly developed transmission electron microscopes of the day, with resolutions from 5-10 A. These scientists could see little application for a microscope that was useful for looking at surfaces with a resolution of only (then) about 200 A. Since that time, many scientists have learned to appreciate that information content in an image may be of more importance than resolution per se. The SEM, with its large depth of field and easily that often require little or no sample prepara interpreted images of samples tion for viewing, is capable of providing significant information about rough samples at magnifications ranging from 50 X to 100,000 X. This range overlaps considerably with the light microscope at the low end, and with the electron microscope at the high end."

Product Identifiers

Publisher
Springer
ISBN-10
0306308207
ISBN-13
9780306308208
eBay Product ID (ePID)
105754

Product Key Features

Book Title
Practical Scanning Electron Microscopy : Electron and Ion Microprobe Analysis
Author
Harvey Yakowitz
Format
Hardcover
Language
English
Topic
Materials Science / General, Electron Microscopes & Microscopy, Chemistry / Analytic
Publication Year
1975
Illustrator
Yes
Genre
Technology & Engineering, Science
Number of Pages
Xviii, 582 Pages

Dimensions

Item Weight
34.6 Oz

Additional Product Features

Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Ta404.6
Copyright Date
1975
Target Audience
Trade
Lccn
74-034162
Dewey Decimal
502/.8/25
Dewey Edition
19

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Monkey King Games

Monkey King Games

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👍👍👍👍👍 One of the leg panels for Guiliman fell off the sprue in transit but thankfully was still in the box when it arrived, suggest wrapping the loose sprues in bubble wrap to ensure better transport in the future. Everything came as described and super excited to build them for my armies