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Beschleunigtes Testen: Statistische Modelle, Testpläne und Datenanalyse (während...
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Gut
Buch, das gelesen wurde, sich aber in einem guten Zustand befindet. Der Einband weist nur sehr geringfügige Beschädigungen auf, wie z.B. kleinere Schrammen, er hat aber weder Löcher, noch ist er eingerissen. Bei gebundenen Büchern ist der Schutzumschlag möglicherweise nicht mehr vorhanden. Die Bindung weist geringfügige Gebrauchsspuren auf. Die Mehrzahl der Seiten ist unbeschädigt, das heißt, es gibt kaum Knitter oder Einrisse, es wurden nur in geringem Maße Bleistiftunterstreichungen im Text vorgenommen, es gibt keine Textmarkierungen und die Randbereiche sind nicht beschrieben. Alle Seiten sind vollständig vorhanden. Genauere Einzelheiten sowie eine Beschreibung eventueller Mängel entnehmen Sie bitte dem Angebot des Verkäufers.
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eBay-Artikelnr.:297086972809
Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- Release Year
- 1990
- Book Title
- Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data ...
- ISBN
- 9780471522775
Über dieses Produkt
Product Identifiers
Publisher
Wiley & Sons, Incorporated, John
ISBN-10
0471522775
ISBN-13
9780471522775
eBay Product ID (ePID)
670975
Product Key Features
Number of Pages
616 Pages
Language
English
Publication Name
Accelerated Testing : Statistical Models, Test Plans, and Data Analyses
Publication Year
1990
Subject
Probability & Statistics / General
Type
Textbook
Subject Area
Mathematics
Series
Wiley Series in Probability and Statistics Ser.
Format
Hardcover
Dimensions
Item Height
1.1 in
Item Weight
29 Oz
Item Length
9.4 in
Item Width
6.4 in
Additional Product Features
Intended Audience
Scholarly & Professional
LCCN
89-024853
Dewey Edition
20
Series Volume Number
257
Illustrated
Yes
Dewey Decimal
620.0011
Table Of Content
Models for Life Tests with Constant Stress.Graphical Data Analysis.Complete Data and Least Squares Analyses.Censored Data and Maximum Likelihood Methods.Test Plans.Competing Failure Modes and Size Effect.Least-Squares Comparisons for Complete Data.Maximum Likelihood Comparisons for Censored and Other Data.Models and Data Analyses for Step and Varying Stress.Accelerated Degradation.Appendix.References.Index.
Synopsis
The Wiley-Interscience Paperback Series consists of selected books that have been made more accessible to consumers in an effort to increase global appeal and general circulation. With these new unabridged softcover volumes, Wiley hopes to extend the lives of these works by making them available to future generations of statisticians, mathematicians, and scientists. ". . . a goldmine of knowledge on accelerated life testing principles and practices . . . one of the very few capable of advancing the science of reliability. It definitely belongs in every bookshelf on engineering." -Dev G. Raheja, Quality and Reliability Engineering International ". . . an impressive book. The width and number of topics covered, the practical data sets included, the obvious knowledge and understanding of the author and the extent of published materials reviewed combine to ensure that this will be a book used frequently." -Journal of the Royal Statistical Society A benchmark text in the field, Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis offers engineers, scientists, and statisticians a reliable resource on the effective use of accelerated life testing to measure and improve product reliability. From simple data plots to advanced computer programs, the text features a wealth of practical applications and a clear, readable style that makes even complicated physical and statistical concepts uniquely accessible. A detailed index adds to its value as a reference source., The Wiley-Interscience Paperback Series consists of selected books that have been made more accessible to consumers in an effort to increase global appeal and general circulation. With these new unabridged softcover volumes, Wiley hopes to extend the lives of these works by making them available to future generations of statisticians, mathematicians, and scientists. ." . . a goldmine of knowledge on accelerated life testing principles and practices . . . one of the very few capable of advancing the science of reliability. It definitely belongs in every bookshelf on engineering." -Dev G. Raheja, Quality and Reliability Engineering International ." . . an impressive book. The width and number of topics covered, the practical data sets included, the obvious knowledge and understanding of the author and the extent of published materials reviewed combine to ensure that this will be a book used frequently." -Journal of the Royal Statistical Society A benchmark text in the field, Accelerated Testing: Statistical Models, Test Plans, and Data Analysis offers engineers, scientists, and statisticians a reliable resource on the effective use of accelerated life testing to measure and improve product reliability. From simple data plots to advanced computer programs, the text features a wealth of practical applications and a clear, readable style that makes even complicated physical and statistical concepts uniquely accessible. A detailed index adds to its value as a reference source.
LC Classification Number
QA276.N45 1990
Artikelbeschreibung des Verkäufers
Info zu diesem Verkäufer
wjtbuys
95% positive Bewertungen•1.1 Tsd. Artikel verkauft
Angemeldet als privater VerkäuferDaher finden verbraucherschützende Vorschriften, die sich aus dem EU-Verbraucherrecht ergeben, keine Anwendung. Der eBay-Käuferschutz gilt dennoch für die meisten Käufe.
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- t***m (660)- Bewertung vom Käufer.Letzte 6 MonateBestätigter KaufThe item says used , but i bougth a new batery and simm, and it Wont Trun on, take it to a electric shop, the answer the mother Board is BURN OUT, to the gárbage canADT/DSC Model 3G3070-RF 3G Alarm Comunicator No SIM No Battery (Nr. 295554068772)
wjtbuys
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