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Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie, Schäfer, Wolfgang - Bild 1 von 1
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Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmikroskopie, Schäfer, Wolfgang

buchpark
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    eBay-Artikelnr.:305363399869
    Zuletzt aktualisiert am 04. Jun. 2024 05:59:52 MESZAlle Änderungen ansehenAlle Änderungen ansehen

    Artikelmerkmale

    Artikelzustand
    Gut
    Buch, das gelesen wurde, sich aber in einem guten Zustand befindet. Der Einband weist nur sehr geringfügige Beschädigungen auf, wie z.B. kleinere Schrammen, er hat aber weder Löcher, noch ist er eingerissen. Bei gebundenen Büchern ist der Schutzumschlag möglicherweise nicht mehr vorhanden. Die Bindung weist geringfügige Gebrauchsspuren auf. Die Mehrzahl der Seiten ist unbeschädigt, das heißt, es gibt kaum Knitter oder Einrisse, es wurden nur in geringem Maße Bleistiftunterstreichungen im Text vorgenommen, es gibt keine Textmarkierungen und die Randbereiche sind nicht beschrieben. Alle Seiten sind vollständig vorhanden. Genauere Einzelheiten sowie eine Beschreibung eventueller Mängel entnehmen Sie bitte dem Angebot des Verkäufers. Alle Zustandsdefinitionen ansehenwird in neuem Fenster oder Tab geöffnet
    Hinweise des Verkäufers
    “Gebrauchs- und Lagerspuren. Außen: angestoßen. Innen: Seiten vergilbt. Aus der Auflösung einer ...
    Produktart
    Sonstiges
    ISBN-10
    377851007x
    Originalsprache
    Deutsch
    Buchtitel
    Halbleiterprüfung. Licht- und Rasterelektronenmik
    Autor
    Schäfer, Wolfgang
    Erscheinungsjahr
    1997
    Verlag
    Hüthig
    Format
    Sonstiges
    Sprache
    Deutsch
    ISBN
    377851007x

    Artikelbeschreibung des Verkäufers

    Rechtliche Informationen des Verkäufers

    USt-IdNr.:
    • AT U75721417
    • DE 137195922
    • GB 367401791
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