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Fortschritte in der Röntgenanalyse
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN-13
- 9781461362937
- Book Title
- Advances in X-Ray Analysis
- ISBN
- 9781461362937
- Publication Year
- 2012
- Type
- Textbook
- Format
- Trade Paperback
- Language
- English
- Publication Name
- Advances in X-Ray Analysis : Volume 36
- Item Height
- 0.6in
- Item Length
- 10in
- Publisher
- Springer
- Item Width
- 7in
- Item Weight
- 47 Oz
- Number of Pages
- Xxiii, 685 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
The 41st Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 3-7, 1992, at the Sheraton Colorado Springs Hotel, Colorado Springs, Colorado. The Conference is recognized to be a major event in the x-ray analysis field, bringing together scientists and engineers from around the world to discuss the state of the art in x-ray applications as well as indications for further developments. In recent years, one of the most exciting and important developments in the x-ray field has been the applications of grazing-incidence x-rays for surface and thin-film analysis. To introduce the conference attendees to these "leading-edge" developments, the topic for the Plenary Session was "Grazing-Incidence X Ray Characterization of Materials. " The Conference had the privilege of inviting leading experts in the field of x-ray thin film analysis to deliver lectures at the Plenary Session. Dr. D. K. Bowen, University of Warwick, U. K. , opened the session with a lecture on "Grazing Incidence X-Ray Scattering from Thin Films. " He reviewed and compared grazing incidence diffraction, fluorescence and reflectivity techniques. Results of experimental and theoretical analysis were also discussed. Dr. B. Lenge1er, Forchungszentrum Ju1ich, Germany, followed with a lecture on "Grazing Incidence Diffuse X-Ray Scattering from Thin Films. " He concentrated on the use of newly developed "off-specular" reflectivity techniques for the determination of vertical roughness, lateral correlation length and contour exponent on surfaces.
Product Identifiers
Publisher
Springer
ISBN-10
1461362938
ISBN-13
9781461362937
eBay Product ID (ePID)
159860358
Product Key Features
Publication Name
Advances in X-Ray Analysis : Volume 36
Format
Trade Paperback
Language
English
Publication Year
2012
Type
Textbook
Number of Pages
Xxiii, 685 Pages
Dimensions
Item Length
10in
Item Height
0.6in
Item Width
7in
Item Weight
47 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Qd71-142
Table of Content
Mathematical Techniques in XRay Spectrometry: Research in the Quantitative Analysis of Individual Particles by XRay Fluorescence Spectrometry (M. Lankosz et al.). Analysis of Light Elements by XRay Spectrometry: XRFA of Carbon in Steels (F. Weber et al.). XRS Techniques and Instrumentation: Diffraction Peaks in XRay Spectroscopy (R.G.Tissot, R.P. Goehner). OnLine, Industrial, and Other Applications of XRS: Application of XRF in the Aluminum Industry (F.R. Feret). XRay Characterization of Thin Films: Grazing Incidence XRay Characterization of Materials (D.K. Bowen, M. Wormington). WholePattern Fitting, Phase Analysis by Diffraction Methods: Phase Identification Using WholePattern Matching (D.K. Smith et al.). Polymer Applications of XRD. HighTemperature and NonAmbient Applications of XRD. Stress and Strain Determination by Diffraction Methods, Peak Broadening Analysis. XRD Techniques and Instrumentation. 71 additional articles. Index.
Copyright Date
1993
Target Audience
Scholarly & Professional
Topic
Materials Science / General, Spectroscopy & Spectrum Analysis, Chemistry / Analytic, Electrical, Industrial Technology
Illustrated
Yes
Genre
Technology & Engineering, Science
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