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Design, Automatisierun g und Test in Europa: Die einflussreichs ten Papiere von 10 Jahren
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN-13
- 9781402064876
- Book Title
- Design, Automation, and Test in Europe
- ISBN
- 9781402064876
- Publication Year
- 2008
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Design, Automation, and Test in Europe : the Most Influential Papers of 10 Years Date
- Item Height
- 0.4in
- Item Length
- 9.3in
- Publisher
- Springer Netherlands
- Item Width
- 6.1in
- Item Weight
- 33.5 Oz
- Number of Pages
- Xii, 516 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
The Design Automation and Test in Europe, DATE, is Europe's leading international electronic systems design conference for electronic design, automation and test, from system level hardware and software implementation right down to integrated circuit design. It combines the conference with Europe's leading international ex- bition for electronic design, automation and test. To celebrate the tenth anniversary of DATE, we have compiled this book with the aim to highlight some of the most influential technical contributions from ten years of DATE. Selecting 30 papers, only 3 papers from each year, is a challenging endeavor. Although the impact of papers from the first years of DATE can be det- mined through various citation indexes, the impact from the later years still have to be seen. Together with all 10 Program Chairs, we have made a selection of the most influential papers covering the very broad range of topics which is characteristic for DATE.
Product Identifiers
Publisher
Springer Netherlands
ISBN-10
140206487x
ISBN-13
9781402064876
eBay Product ID (ePID)
25038575675
Product Key Features
Publication Name
Design, Automation, and Test in Europe : the Most Influential Papers of 10 Years Date
Format
Hardcover
Language
English
Publication Year
2008
Type
Textbook
Number of Pages
Xii, 516 Pages
Dimensions
Item Length
9.3in
Item Height
0.4in
Item Width
6.1in
Item Weight
33.5 Oz
Additional Product Features
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Tk7867-7867.5
Table of Content
System Level Design.- System Level Design: Past, Present, and Future.- Scheduling of Conditional Process Graphs for the Synthesis of Embedded Systems.- EXPRESSION: A Language for Architecture Exploration Through Compiler/Simulator Retargetability.- RTOS Modeling for System Level Design.- Context-Aware Performance Analysis for Efficient Embedded System Design.- Lock-Free Synchronization for Dynamic Embedded Real-Time Systems.- What If You Could Design Tomorrow's System Today?.- Networks on Chip.- Networks on Chips.- A Generic Architecture for On-Chip Packet-Switched Interconnections.- Trade-offs in the Design of a Router with Both Guaranteed and Best-Effort Services for Networks on Chip.- Exploiting the Routing Flexibility for Energy/Performance-Aware Mapping of Regular NoC Architectures.- xpipesCompiler: A Tool for Instantiating Application-Specific Networks on Chip.- A Network Traffic Generator Model for Fast Network-on-Chip Simulation.- Modeling, Simulation and Run-Time Management.- Modeling, Simulation and Run-Time Management.- Dynamic Power Management for Nonstationary Service Requests.- Quantitative Comparison of Power Management Algorithms.- Energy Efficiency of the IEEE 802.15.4 Standard in Dense Wireless Microsensor Networks: Modeling and Improvement Perspectives.- Statistical Blockade: A Novel Method for Very Fast Monte Carlo Simulation of Rare Circuit Events, and its Application.- Compositional Specification of Behavioral Semantics.- Design Technology for Advanced Digital Systems in CMOS and Beyond.- Design Technology for Advanced Digital Systems in CMOS and Beyond.- Address Bus Encoding Techniques for System-Level Power Optimization.- MOCSYN: Multiobjective Core-Based Single-Chip System Synthesis.- Minimum Energy Fixed-Priority Scheduling for VariableVoltage Processors.- Synthesis and Optimization of Threshold Logic Networks with Application to Nanotechnologies.- Physical Design and Validation.- Physical Design and Validation.- Interconnect Tuning Strategies for High-Performance ICs.- Efficient Inductance Extraction via Windowing.- Soft-Error Tolerance Analysis and Optimization of Nanometer Circuits.- A Single Photon Avalanche Diode Array Fabricated in Deep-Submicron CMOS Technology.- Test and Verification.- The Test and Verification Influential Papers in the 10 Years of DATE.- Cost Reduction and Evaluation of a Temporary Faults-Detecting Technique.- An Integrated System-on-Chip Test Framework.- Efficient Spectral Techniques for Sequential ATPG.- BerkMin: A Fast and Robust Sat-Solver.- Improving Compression Ratio, Area Overhead, and Test Application Time for System-on-Chip Test Data Compression/Decompression.- An Effective Technique for Minimizing the Cost of Processor Software-Based Diagnosis in SoCs.
Copyright Date
2008
Topic
Hardware / General, Electronics / Circuits / General, Electronics / General
Lccn
2007-939398
Dewey Decimal
621.381
Intended Audience
Scholarly & Professional
Dewey Edition
22
Illustrated
Yes
Genre
Computers, Technology & Engineering
Artikelbeschreibung des Verkäufers
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Ausgeschlossen:
APO/FPO, Alaska/Hawaii, Barbados, Belarus, Französisch-Guayana, Französisch-Polynesien, Guadeloupe, Libyen, Martinique, Neukaledonien, Panama, Papua-Neuguinea, Russische Föderation, Réunion, Samoa (Westsamoa), US-Protektorate, Ukraine, Venezuela
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