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Spektroskopie komplexer Oxidschnittstellen: Photoemission und verwandtes Spektroskop - Bild 1 von 1
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Spektroskopie komplexer Oxidschnittstellen: Photoemission und verwandtes Spektroskop

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eBay-Artikelnr.:386693135161
Zuletzt aktualisiert am 01. Apr. 2024 08:02:23 MESZAlle Änderungen ansehenAlle Änderungen ansehen

Artikelmerkmale

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Neu: Neues, ungelesenes, ungebrauchtes Buch in makellosem Zustand ohne fehlende oder beschädigte ...
ISBN-13
9783319749884
Type
NA
Publication Name
NA
ISBN
9783319749884
Publication Year
2018
Format
Hardcover
Language
English
Book Title
Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Author
Vladimir N. Strocov
Item Length
9.3in
Publisher
Springer International Publishing A&G
Genre
Technology & Engineering, Science
Topic
Materials Science / General, Spectroscopy & Spectrum Analysis, Chemistry / Physical & Theoretical, Chemistry / General
Item Width
6.1in
Item Weight
23.6 Oz
Number of Pages
Xiv, 320 Pages

Über dieses Produkt

Product Information

This book summarizes the most recent and compelling experimental results for complex oxide interfaces. The results of this book were obtained with the cutting-edge photoemission technique at highest energy resolution. Due to their fascinating properties for new-generation electronic devices and the challenge of investigating buried regions, the book chiefly focuses on complex oxide interfaces. The crucial feature of exploring buried interfaces is the use of soft X-ray angle-resolved photoemission spectroscopy (ARPES) operating on the energy range of a few hundred eV to increase the photoelectron mean free path, enabling the photons to penetrate through the top layers - in contrast to conventional ultraviolet (UV)-ARPES techniques. The results presented here, achieved by different research groups around the world, are summarized in a clearly structured way and discussed in comparison with other photoemission spectroscopy techniques and other oxide materials. They are complemented and supported by the most recent theoretical calculations as well as results of complementary experimental techniques including electron transport and inelastic resonant X-ray scattering.

Product Identifiers

Publisher
Springer International Publishing A&G
ISBN-10
3319749889
ISBN-13
9783319749884
eBay Product ID (ePID)
242507714

Product Key Features

Book Title
Spectroscopy of Complex Oxide Interfaces : Photoemission and Related Spectroscopies
Author
Vladimir N. Strocov
Format
Hardcover
Language
English
Topic
Materials Science / General, Spectroscopy & Spectrum Analysis, Chemistry / Physical & Theoretical, Chemistry / General
Publication Year
2018
Genre
Technology & Engineering, Science
Number of Pages
Xiv, 320 Pages

Dimensions

Item Length
9.3in
Item Width
6.1in
Item Weight
23.6 Oz

Additional Product Features

Series Volume Number
266
Number of Volumes
1 Vol.
Lc Classification Number
Ta418.5-.84
Table of Content
Introduction.- Growth of TMO Interfaces.- Transport Properties of TMO Interfaces.- Photoemission of Bare TMO Surfaces.- Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy.- ARPES of TMO Interfaces.- X-ray Standing Wave Spectroscopy.- Dynamical Effects at the TMO Interfaces.- Ab-initio Calculations of TMO Band Structure.- Interfacial Magnetism.- RIXS on Nickelates.- Conclusions.
Copyright Date
2018
Series
Springer Series in Materials Science Ser.
Illustrated
Yes

Artikelbeschreibung des Verkäufers

grandeagleretail

grandeagleretail

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