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ESD: Ausfallmechani
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- Sofort-KaufenESD: Ausfallmechanismen und -modelle von Steven H. Voldman (englisch) Hardcover-Buch
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN-13
- 9780470511374
- Book Title
- ESD
- ISBN
- 9780470511374
- Publication Year
- 2009
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Publication Name
- Esd: Failure Mechanisms and Models
- Item Height
- 256mm
- Publisher
- John Wiley & Sons INC International Concepts
- Item Width
- 171mm
- Subject
- Physics
- Item Weight
- 804g
- Number of Pages
- 408 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
Electrostatic discharge (ESD) failure mechanisms continue to impact semiconductor components and systems as technologies scale from micro- to nano-electronics. This book studies electrical overstress, ESD, and latchup from a failure analysis and case-study approach. It provides a clear insight into the physics of failure from a generalist perspective, followed by investigation of failure mechanisms in specific technologies, circuits, and systems. The book is unique in covering both the failure mechanism and the practical solutions to fix the problem from either a technology or circuit methodology. Look inside for extensive coverage on: failure analysis tools, EOS and ESD failure sources and failure models of semiconductor technology, and how to use failure analysis to design more robust semiconductor components and systems; electro-thermal models and technologies; the state-of-the-art technologies discussed include CMOS, BiCMOS, silicon on insulator (SOI), bipolar technology, high voltage CMOS (HVCMOS), RF CMOS, smart power, gallium arsenide (GaAs), gallium nitride (GaN), magneto-resistive (MR) , giant magneto-resistors (GMR), tunneling magneto-resistor (TMR), devices; micro electro-mechanical (MEM) systems, and photo-masks and reticles; practical methods to use failure analysis for the understanding of ESD circuit operation, temperature analysis, power distribution, ground rule development, internal bus distribution, current path analysis, quality metrics, (connecting the theoretical to the practical analysis); the failure of each key element of a technology from passives, active elements to the circuit, sub-system to package, highlighted by case studies of the elements, circuits and system-on-chip (SOC) in today?s products. ESD: Failure Mechanisms and Models is a continuation of the author?s series of books on ESD protection. It is an essential reference and a useful insight into the issues that confront modern technology as we enter the Nano-electronic era.
Product Identifiers
Publisher
John Wiley & Sons INC International Concepts
ISBN-13
9780470511374
eBay Product ID (ePID)
91471281
Product Key Features
Publication Name
Esd: Failure Mechanisms and Models
Format
Hardcover
Language
English
Subject
Physics
Publication Year
2009
Type
Textbook
Number of Pages
408 Pages
Dimensions
Item Height
256mm
Item Width
171mm
Item Weight
804g
Additional Product Features
Country/Region of Manufacture
United States
Artikelbeschreibung des Verkäufers
Rechtliche Informationen des Verkäufers
USt-IdNr.:
- GB 324767388
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