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In-situ Materials Characterization Alexander Ziegler

buch-mimpf
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Artikelmerkmale

Artikelzustand
Neu: Neues, ungelesenes, ungebrauchtes Buch in makellosem Zustand ohne fehlende oder beschädigte ...
Seiten
268
Gewicht
571
Einband
Buch
Marke
Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg
Fachbereich
Hardcover/Naturwissenschaften, Medizin, Informatik, Technik/Ph...
Publikationstitel
In-situ Materials Characterization
Buchtitel
In-situ Materials Characterization
Untertitel
Across Spatial and Temporal Scales
Film-/Fernseh-Titel
Keine Angabe
Musiktitel
Keine Angabe
Interpret
Keine Angabe
Schlagworte
Mikroskopie Nanotechnologie Technologie / Nanotechnologie S...
ISBN
9783642451515

Über dieses Produkt

Produktinformation

The behavior of nanoscale materials can change rapidly with time either because the environment changes rapidly or because the influence of the environment propagates quickly across the intrinsically small dimensions of nanoscale materials. Extremely fast time resolution studies using X-rays, electrons and neutrons are of very high interest to many researchers and is a fast-evolving and interesting field for the study of dynamic processes. Therefore, in situ structural characterization and measurements of structure-property relationships covering several decades of length and time scales (from atoms to millimeters and femtoseconds to hours) with high spatial and temporal resolutions are crucially important to understand the synthesis and behavior of multidimensional materials. The techniques described in this book will permit access to the real-time dynamics of materials, surface processes and chemical and biological reactions at various time scales. This book provides an interdisciplinary reference for research using in situ techniques to capture the real-time structural and property responses of materials to surrounding fields using electron, optical and x-ray microscopies (e.g. scanning, transmission and low-energy electron microscopy and scanning probe microscopy) or in the scattering realm with x-ray, neutron and electron diffraction.

Produktkennzeichnungen

Herausgeber
Joost W. M. Frenken, Alexander Ziegler, Xiao-Feng Zhang, Heinz Graafsma
ISBN-10
3642451519
ISBN-13
9783642451515
eBay Product ID (ePID)
182754618

Produkt Hauptmerkmale

Verlag
Springer-Verlag Gmbh, Springer Berlin
Erscheinungsjahr
2014
Anzahl der Seiten
Xi Seiten
Sprache
Englisch
Publikationsname
In-Situ Materials Characterization
Produktart
Lehrbuch
Autor
Joost W. M. Frenken, Alexander Ziegler, Xiao-Feng Zhang, Heinz Graafsma
Reihe
Springer Series in Materials Science
Format
Gebundene Ausgabe

Zusätzliche Produkteigenschaften

Hörbuch
No
Nummer Innerhalb der Serie
193
Item Height
2cm
Item Length
24cm
Item Width
16cm
Item Weight
571g

Artikelbeschreibung des Verkäufers

Rechtliche Informationen des Verkäufers

USt-IdNr.: DE 235096871

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Info zu diesem Verkäufer

buch-mimpf

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