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Zweidimensiona
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Artikelmerkmale
- Artikelzustand
- ISBN-13
- 9781119356103
- Book Title
- Two-dimensional X-ray Diffraction
- ISBN
- 9781119356103
- Item Length
- 10.1in
- Publisher
- Wiley & Sons, Incorporated, John
- Publication Year
- 2018
- Type
- Textbook
- Format
- Hardcover
- Language
- English
- Item Height
- 1in
- Genre
- Science
- Topic
- Physics / Optics & Light, Chemistry / Analytic
- Item Width
- 7in
- Item Weight
- 34.5 Oz
- Number of Pages
- 496 Pages
Über dieses Produkt
Product Information
Die zweidimensionale Röntgendiffraktion ist die ideale, zerstörungsfreie Analysemethode für Proben aller Art. Hierzu gehören Metalle, Polymere, Keramiken, Halbleiter, Dünnfilme, Beschichtungen, Farben, Biomaterialien, Verbundstoffe u.v.m. Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction erläutert als aktuelles Referenzwerk, wie die neuesten 2D-Dektektoren in Diffraktometer integriert werden, wie sich mithilfe eines 2D-Detektors für Diffraktometer die besten Daten gewinnen lassen und wie die Daten zu interpretieren sind. Überaus hilfreich für alle, die die 2D-Diffraktion im eigenen Labor umsetzen möchten, sind die Ausführungen des Autors zu den physikalischen Prinzipien, zur Projektionsgeometrie und zu mathematischen Ableitungen. - Bietet neue Inhalte in allen Kapiteln. Die meisten Abbildungen sind gänzlich in Farbe und zeigen so mehr Einzelheiten in den Illustrationen und Diffraktionsmustern. - Deckt die jüngsten Fortschritte in der Detektortechnik und bei Strategien zur zweidimensionalen Datensammlung ab, die dazu geführt haben, dass 2D-Detektoren verstärkt in der Röntgendiffraktion zum Einsatz kommen. - Behandelt ausführlich neue Innovationen im Hinblick auf Röntgenquellen, Optik, Systemkonfigurationen, Anwendungen und Algorithmen zur Datenevaluierung. - Enthält neue Methoden und Beispiele für Versuchsaufbauten für Belastungs-, Textur-, Kristallgrö e-, Kristallorientierungs- und Dünnfilmanalysen. Die 2. Auflage von Two-Dimensional X-Ray Diffraction ist ein wichtiges Referenzwerk für Forscher und Entwickler in den Materialwissenschaften, der Chemie und Physik sowie im Pharmabereich, sowohl in der Industrie als auch im universitären Umfeld, und für alle, die die Röntgendiffraktion als Charakterisierungsverfahren einsetzen. Dieses Nachschlagewerk darf in der Handbibliothek von Anwendern auf allen Ebenen, von Gerätetechnikern, Managern in Röntgenlabors und Geräteentwicklern nicht fehlen.
Product Identifiers
Publisher
Wiley & Sons, Incorporated, John
ISBN-10
1119356105
ISBN-13
9781119356103
eBay Product ID (ePID)
242548344
Product Key Features
Format
Hardcover
Language
English
Topic
Physics / Optics & Light, Chemistry / Analytic
Publication Year
2018
Type
Textbook
Genre
Science
Number of Pages
496 Pages
Dimensions
Item Length
10.1in
Item Height
1in
Item Width
7in
Item Weight
34.5 Oz
Additional Product Features
Lc Classification Number
Qc482.D5h4 2018
Edition Number
2
Publication Name
Two-Dimensional X-Ray Diffraction
Table of Content
Preface xiii 1. Introduction 1 1.1 X-Ray Technology, a Brief History, 1 1.2 Geometry of Crystals, 2 1.3 Principles of X-Ray Diffraction, 11 1.4 Reciprocal Space and Diffraction, 13 1.5 Two-Dimensional X-Ray Diffraction, 19 References, 26 2. Geometry and Fundamentals 29 2.1 Introduction, 29 2.2 Diffraction Space and Laboratory Coordinates, 31 2.3 Detector Space and Detector Geometry, 35 2.4 Sample Space and Goniometer Geometry, 46 2.5 Transformation from Diffraction Space to Sample Space, 50 2.6 Reciprocal Space, 52 2.7 Summary, 53 References, 55 3. X-Ray Source and Optics 57 3.2 X-Ray Optics, 63 References, 85 4. X-Ray Detectors 87 4.1 History of X-Ray Detection Technology, 87 4.2 Point Detectors in Conventional Diffractometers, 89 4.3 Characteristics of Point Detectors, 92 4.4 Line Detectors, 100 4.5 Characteristics of Area Detectors, 107 4.6 Types of Area Detectors, 119 References, 137 5. Goniometer and Sample Stages 141 5.1 Goniometer and Sample Position, 141 5.2 Goniometer Accuracy, 145 5.3 Sample Alignment and Visualization Systems, 149 5.4 Environment Stages, 151 References, 155 6. Data Treatment 157 6.1 Introduction, 157 6.2 Non-Uniform Response Correction, 157 6.3 Spatial Correction, 161 6.4 Detector Position Accuracy and Calibration, 166 6.5 Frame Integration, 177 6.6 Multiple Frame Merge, 186 6.7 Scanning 2D Pattern, 194 6.8 Lorentz, Polarization, and Absorption Corrections, 197 References, 208 7. Phase Identification 211 7.1 Introduction, 211 7.2 Relative Intensity, 212 7.3 Geometry and Resolution, 216 7.4 Sampling Statistics, 221 7.5 Preferred Orientation Effect, 227 References, 233 8. Texture Analysis 235 8.1 Introduction, 235 8.2 Pole Density and Pole-Figure, 236 8.3 Fundamental Equations, 238 8.4 Data Collection Strategy, 242 8.5 Texture Data Process, 251 8.6 Orientation Distribution Function, 256 8.7 Fiber Texture, 261 8.8 Polymer Texture, 264 8.9 Other Advantages of XRD2 for Texture, 268 References, 269 9. Stress Measurement 271 9.1 Introduction, 271 9.2 Principle of X-ray Stress Analysis, 280 9.3 Theory of Stress Analysis with XRD2, 292 9.4 Process of Stress Measurement with XRD2, 307 9.5 Experimental Examples, 325 A9.1 Calculate Principal Stresses, 349 A9.2 Calculate the direction cosines for principal stresses (Eigenvectors), 350 References, 353 10. Small Angle X-ray Scattering 357 10.1 Introduction, 357 10.2 2D SAXS Systems, 361 10.3 Applications Examples, 367 10.4 Some Innovations in 2D SAXS, 370 References, 374 11. Combinatorial Screening 379 11.1 Introduction, 379 11.2 XRD2 Systems for High Throughput Screening, 380 11.3 Combined Screening with XRD2 and Raman, 390 Reference, 393 12. Miscellaneous Applications 395 12.1 Percent Crystallinity, 395 12.2 Crystal Size, 402 12.3 Retained Austenite, 412 12.4 Crystal Orientation, 414 12.5 Thin Film Analysis, 418 Reference, 429 13. Innovation and Future Development 433 13.1 Introduction, 433 13.2 Scanning Line Detector for XRD2, 434 13.3 Three-Dimensional Detector, 438 13.4 Pixel Direct Diffraction Analysis, 441 13.5 High Resolution Two-Dimensional X-Ray Diffractometer, 444 References, 451 Appendix A. Values of Commonly Used Parameters 453 Appendix B. Symbols 459 Index 465
Copyright Date
2018
Lccn
2018-001011
Intended Audience
Scholarly & Professional
Illustrated
Yes
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Ausgeschlossen:
APO/FPO, Alaska/Hawaii, Barbados, Belarus, Französisch-Guayana, Französisch-Polynesien, Guadeloupe, Libyen, Martinique, Neukaledonien, Panama, Papua-Neuguinea, Russische Föderation, Réunion, Samoa (Westsamoa), US-Protektorate, Ukraine, Venezuela
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